實(shí)驗(yàn)室，環(huán)境幽雅，低背景噪聲的優(yōu)異測(cè)試環(huán)境;目前電磁兼容實(shí)驗(yàn)室擁有符合國際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試場(chǎng)地:

　　3m/10m 開放式測(cè)試場(chǎng) (Radiated Test)

　　半電波暗室 (EMI Pretest)

　　電波隔離室 (Conducted / Power Clamp Test)

　　磁場(chǎng)輻射測(cè)試室 (lighting devices Test)

　　超低頻輻射測(cè)試室 (LR/TCO Test)

　　電磁干擾修改室 (EMI Debug)

　　全電波暗室 (RS Test)

　　靜電放電測(cè)試室 (ESD Test)

　　雷擊測(cè)試室 (Surge Test)

　　傳導(dǎo)耐受測(cè)試室 (CS Test)

　　快速脈沖群&電源諧波&電壓變動(dòng)&磁場(chǎng)耐受測(cè)試室(EFT/Harmonics/Flickers/Magnetic immunity test)

　　電磁耐受修改室 (RS Debug)

　　安規(guī)測(cè)試室(Safety Test)

　　主要設(shè)備購自世界頂尖儀器廠商。由專家現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試和校準(zhǔn)、滿足自動(dòng)化、智能化測(cè)試的要求，可自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)拍照、自動(dòng)打印、自動(dòng)校準(zhǔn)、并具備升級(jí)和擴(kuò)展的能力。配置的主要測(cè)試系統(tǒng)有：騷擾功率/傳導(dǎo)騷擾電壓自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，照明設(shè)備/家用電器EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，GSM、CDMA模擬基站/EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，功率放大系統(tǒng)，諧波/電壓波動(dòng)和閃爍測(cè)試系統(tǒng)，靜電放電抗擾度、電塊速瞬變脈沖群抗擾度、浪涌抗擾度、電壓跌落、暫降和中斷抗擾度、雷擊測(cè)試系統(tǒng)。